线扫镜头
E3700
| 靶面 | 90.0mm |
| 焦距(mm) | 120.0 |
| 放大倍率 | -0.50 |
| 相对通光孔径 | F5.6-F16 |
| 分辨率 | 16K5μ |
E3653
| 靶面 | 66.0mm |
| 焦距(mm) | 90.0 |
| 放大倍率 | -0.09 |
| 相对通光孔径 | F4.0-F16 |
| 分辨率 | 12K5μ |
E3690
| 靶面 | 60.0mm |
| 焦距(mm) | 38.0 |
| 放大倍率 | -0.17 |
| 相对通光孔径 | F5.6-F16 |
| 分辨率 | 8K7μ |
E3652
| 靶面 | 44.0mm |
| 焦距(mm) | 50.0 |
| 放大倍率 | -0.22 |
| 相对通光孔径 | F2.2-F22 |
| 分辨率 | 8K5μ |
E3656
| 靶面 | 43.2mm |
| 焦距(mm) | 41.5 |
| 放大倍率 | -0.13 |
| 相对通光孔径 | F2.8-F22 |
| 分辨率 | 8K5μ |
E3681
| 靶面 | 30.0mm |
| 焦距(mm) | 20.0 |
| 放大倍率 | -0.04 |
| 相对通光孔径 | F4.5-F16 |
| 分辨率 | 4K7μ |
主要特征
- 高性价比
- 色差校正设计
- 应用于锂电，PCB，LCD，半导体缺陷检测
- 高像素，低畸变，支持8K7y,4K12y,16K3.5u
应用领域
机器视觉领域
主要特征
- 高性价比
- 色差校正设计
- 应用于锂电，PCB，LCD，半导体缺陷检测
- 高像素，低畸变，支持8K7y,4K12y,16K3.5u
应用领域
机器视觉领域
主要特征
- 高性价比
- 色差校正设计
- 应用于锂电，PCB，LCD，半导体缺陷检测
- 高像素，低畸变，支持8K7y,4K12y,16K3.5u
应用领域
机器视觉领域
主要特征
- 高性价比
- 色差校正设计
- 应用于锂电，PCB，LCD，半导体缺陷检测
- 高像素，低畸变，支持8K7y,4K12y,16K3.5u
应用领域
机器视觉领域
主要特征
- 高性价比
- 色差校正设计
- 应用于锂电，PCB，LCD，半导体缺陷检测
- 高像素，低畸变，支持8K7y,4K12y,16K3.5u
应用领域
机器视觉领域
主要特征
- 高性价比
- 色差校正设计
- 应用于锂电，PCB，LCD，半导体缺陷检测
- 高像素，低畸变，支持8K7y,4K12y,16K3.5u
应用领域
机器视觉领域
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